考虑制程变异的全芯片漏电流统计分析65nm芯片节点

全芯片漏电流的统计算法，算是制程变异影响的老大难问题时，还挺有用的一个思路。它不是直接靠经验或者扫一遍模型参数，而是用一个新的亚阈值漏电流模型，专门考虑了像量子效应、应力效应这种小尺寸工艺下的细节。

模型本身还蛮贴近实际的，是在65nm节点下，变异带来的亚阈值漏电流波动算是抓得挺准的。像有效沟道长度、阈值电压这种主要的变异源，它都考虑进去了。而且，和实测数据的吻合度还不错。

如果你手头的芯片设计流程里有对功耗优化或者低功耗验证要求比较高的，拿这个方法来跑一波漏电流模拟，结果应该比传统方法更靠谱。尤其在多种工艺角下做统计时，用它能省下不少调参时间。

如果你平常用MATLAB比较多，想做电流建模或者电路仿真优化，这几个链接都能帮上忙。